GP-L500-300C to mikroskop metalograficzny klasy badawczej z bardzo dużym ruchomym stolikiem do próbek o dużych rozmiarach. Wielkogabarytowy mikroskop metalurgiczny o dużym powiększeniu zapewnia obrazowanie w rozdzielczości HD 1080P, aby pokazać wyraźne szczegóły mikrostruktury. Port trinokularny umożliwia instalację kamery przepływy pracy związane z analizą metalograficzną. Idealnie nadaje się do obserwacji metalurgii materiałów wielkogabarytowych, półprzewodników inspekcja, analiza wycinków płytek PCB i scenariusze kontroli jakości w laboratoriach przemysłowych.
Ten wielkostolikowy mikroskop metalurgiczny o dużym powiększeniu nadaje się do mikroskopowej obserwacji mikrostruktur metalograficznych i morfologii powierzchni. To stanowi idealne narzędzie badawcze w dziedzinach metalurgii, mineralogii i inżynierii precyzyjnej.
Kamera HD wbudowana w obudowę trójokularową do jednoczesnego oglądania przez okular i monitor. Mikroobraz HDMI w czasie rzeczywistym Dane wyjściowe łączą przebieg obserwacji i nagrywania.
Powiększenie optyczne 50-800X; maksymalne czysto cyfrowe powiększenie do 6080X przy zestawie pięciu obiektywów. Precyzja ścieżka optyczna zapewnia ostre szczegóły do mikrokontroli płytek i chipów.
Stabilne pokrętła ostrości dopasowane do zespołu obiektywu i tubusu zapewniają delikatne ustawianie ostrości i redukują drgania obrazu.
Ponadgabarytowy ruchomy stolik na próbki w połączeniu z grubą metalową podstawą. Pozostaje stabilny w przypadku próbek o dużych rozmiarach, bez drgań podczas wieloletnia obserwacja.
Minimalistyczna, całkowicie biała, sztywna rama w stylu industrialnym. Dobrze nadaje się do warsztatów półprzewodnikowych i na uniwersytet laboratoria.
Zoptymalizowany pod kątem kontroli wiórów i płytek; również szeroko stosowany do testowania półprzewodników, analizy metalograficznej, badania materiałowe i prace związane z oceną jakości.
Przechwytywanie zdjęć i wideo w rozdzielczości 1080P, wbudowany precyzyjny pomiar na monitorze, pamięć U-disk. Cyfrowe obrazowanie upraszcza plik archiwizacja, porównywanie obrazów i prace po analizie.
Obserwacja obuoczna i synchroniczna obserwacja elektroniczna:Widok z okularu i wyświetlacz na monitorze działają synchronicznie. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne służą jedynie do obserwacji przez okular; są dodatkowe akcesoria do aparatu wymagane do wyświetlania obrazu na ekranie.
Wielkoformatowa scena i bardzo duże powiększenie:Maksymalne powiększenie optyczne osiąga 800X; maksymalnie czysto cyfrowe powiększenie elektroniczne osiąga 6080X. Ponadgabarytowa ruchoma scena może pomieścić próbki o dużych wymiarach. Konwencjonalne mikroskopy metalurgiczne są wyposażone w niewielkie stoliki robocze i oferują niższą elektronikę powiększenie.
Bezpośrednie wyjście HDMI:Podłącz bezpośrednio do monitora za pomocą kabla HDMI. Ogólne mikroskopy metalurgiczne wymagają oddzielnych kamer i kart przechwytujących do wyjściowego obrazu.
Pomiar offline na monitorze:Pomiar wymiarów można wykonać bezpośrednio na monitorze bez konieczności Połączenie z komputerem. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne opierają się wyłącznie na pomiarach za pomocą oprogramowania komputerowego.
Przechowywanie na dysku U offline:Zapisuj zdjęcia i filmy na dysku U bez użycia komputera. Tradycyjne modele musi być podłączony do komputera w celu zapisania obrazu.
Dedykowany metalurgiczny tor optyczny:Zoptymalizowany pod kątem ziaren metalicznych, powłok i analiza metalograficzno-materiałowa. Zwykłym mikroskopom cyfrowym brakuje tej wyspecjalizowanej ścieżki optycznej i nie mogą wizualizować struktury metalograficzne.
Mechanika:W pełni metalowa rama o dużej wytrzymałości zapewnia wysoką sztywność i działanie antywibracyjne. Precyzja współosiowe ogniskowanie zgrubne i dokładne z urządzeniem blokującym i ograniczającym, wartość podziałki drobnego ruchu: 0,7 μm. Wielkoformatowy ręczny stolik XY o płynnym ruchu i niskim zużyciu. Trójokularowa ścieżka optyczna utrzymuje współosiowość optyczną podczas przełączania cele.
Optyka:Planachromatyczne cele metalurgiczne z korekcją do nieskończoności. Odbita lampa halogenowa oświetlenie z możliwością regulacji jasności.
Obrazowanie i pomiary:2-megapikselowy czujnik CMOS 1080P HD, wyjście tylko HDMI. Wbudowane oprogramowanie sprzętowe pomiar odbywa się na monitorze. Wstępnie skalibrowany fabrycznie; parametry nie ulegają zmianie po wyłączeniu zasilania; brak codziennej kalibracji wymagane. Zapisywanie danych wyłącznie poprzez zgodny dysk U. Połączenie z komputerem, port USB i funkcje programowania wtórnego NIE są dostępne obsługiwane przez GP-L500-300C.
Jakość i konserwacja:Pełna fabryczna kalibracja optyczna i kontrola wydajności. Inspekcja raporty i przykładowe mikrografie mogą być dostarczone na żądanie. Nie demontuj modułów optycznych. Regularnie odporny na kurz czyszczenie przedłuży żywotność.
Płytki i chipy półprzewodnikowe (zastosowanie podstawowe):
Płytki krzemowe, plastry litograficzne, chipy IC, lampy MOS, płytki PCB, obwody elastyczne FPC, pakowane złącza lutownicze.
Cele kontroli: wewnętrzne obwody mikrochipów, powłoki płytek, defekty trawienia, pęcherzyki opakowaniowe, lutowanie na zimno
połączeń, utleniania i deformacji sworzni.
Próbki metalograficzne i narzędzia do cięcia sprzętu:
Profile metalograficzne, stal stopowa, wiertła, frezy, precyzyjnie tłoczone części metalowe.
Cele kontroli: struktura ziaren metalu, analiza metalograficzna obróbki cieplnej, mikropęknięcia powierzchniowe,
najnowocześniejsze odpryski, zadziory, ślady zużycia i wewnętrzne zanieczyszczenia materiału.
Próbki laboratoryjne: proszek, włókno i cienkowarstwowa:
Proszek metalowy, proszek chemiczny, włókno węglowe, włókno tekstylne, folie z powłoką optyczną.
Obserwuj morfologię cząstek, teksturę włókien, rozwarstwienie folii i struktury mikropowłok.
Komponenty optoelektroniczne i precyzyjne z tworzyw sztucznych:
Chipy LED, soczewki optyczne, części formowane wtryskowo, klej do opakowań półprzewodników.
Wykryj mikropory, plamy powierzchniowe, szorstkie krawędzie, rozwarstwienia, pęcherzyki i drobne wady kosmetyczne.
Precyzyjne miniaturowe komponenty o dużych rozmiarach:
Złącza, końcówki, mikrosprężyny, duże elementy tłoczone, części o długich wymiarach.
Bardzo duży ruchomy stolik mieści próbki o dużych rozmiarach; dokładny pomiar na poziomie pikseli przerw, średnic otworów,
różnice wysokości i wymiary liniowe.
Laboratoria akademickie i kontrola jakości w fabryce półprzewodników:
Eksperymenty w zakresie badań materiałowych, towary przychodzące i wyroby gotowe, pełna kontrola półprzewodników,
obserwacja metalograficzna próbek; archiwizacja zdjęć/wideo.
Rozbudowana duża platforma umożliwia pełną obserwację płytek, dużych płytek PCB i dużych kawałków metalu bez próbki cięcie. Idealny do kontroli płytek półprzewodnikowych, płytek drukowanych i dużych podzespołów sprzętowych.
Stopniowo regulowane powiększenie: optyczne 50x-800x; maksymalne powiększenie cyfrowe do 6080X (czysty zoom cyfrowy). Przechwytuje ogólny wygląd przedmiotu obrabianego i bardzo drobne szczegóły, takie jak obwody wiórowe, ziarna metalu, mikrozarysowania i powłoka pory. Idealny do testów badawczo-rozwojowych półprzewodników.
Trójokularowa, synchroniczna droga światła umożliwia jednoczesną obserwację przez okulary lornetkowe i monitor HDMI. Nadaje się do Dyskusje w zespole badawczo-rozwojowym, podwójna ponowna kontrola jakości i nauczanie w laboratorium uniwersyteckim w celu ograniczenia błędnej oceny.
Pojedyncze wyjście HDMI z wbudowaną funkcją pomiaru na monitorze. Zapisuj zdjęcia i filmy w rozdzielczości 1080P bezpośrednio na zgodny Dysk U. Plug-and-play z prostym okablowaniem. Pasuje do stanowisk kontroli podstawowej w warsztatach półprzewodników i mały materiał laboratoria.
Gruby zintegrowany korpus antywibracyjny wraz z współosiowym ręcznym ustawianiem ostrości zgrubnie i precyzyjnie. Płynne ustawianie ostrości bez przesunięcie obrazu podczas wielogodzinnej ciągłej kontroli. Nadaje się do codziennego testu masy przychodzącej płytek i obwodów deski oraz długoterminowa analiza laboratoryjna próbek statycznych.
Na życzenie dostępna jest wysyłka w neutralnym opakowaniu.
| Przedmiot | Opis |
| Produkt | GP-L500-300C Mikroskop metalograficzny klasy badawczej |
| Kategoria | Trójokularowy mikroskop inspekcyjny metalurgiczny klasy przemysłowej, wielkoplatformowy |
| Podstawowe technologie | Trójokularowy, synchroniczny układ optyczny, stolik na próbki o dużej powierzchni, duża moc metalurgiczny zestaw obiektyw-soczewka, przetwornik obrazu HD CMOS, wbudowany cyfrowy moduł pomiaru precyzyjnego, HDMI czasu rzeczywistego wideo wyjście, technologia lokalnego przechowywania obrazów U-disk |
| Kluczowe dane techniczne | Powiększenie wizualne: 50/100/200/500/800×; Powiększenie elektroniczne: 380/760/1520/3800/6080× (6080X to czysty zoom cyfrowy); Interfejs wyjściowy: tylko HDMI; Rozdzielczość przechwytywania: 1920*1080; Ręczne ustawianie ostrości; Wbudowany precyzyjny funkcja pomiaru, pamięć U-disk; Terminal monitorowy obsługuje podgląd obrazu HD, przechwytywanie zdjęć i wideo nagranie. |
| Typowe zastosowania | Kontrola mikrostruktury płytek i chipów półprzewodnikowych, obserwacja wielkogabarytowych komponentów elektronicznych, metal analiza metalograficzna ziarna, detekcja obwodu opakowania, kontrola przekrojów PCB, materiał nowej energii badania laboratoryjne, zaawansowane badania materiałowe |
| Producent | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokalizacja producenta | Kunshan, Jiangsu, Chiny (w sąsiedztwie Szanghaju) |
| Model | GP-L500-300C |
| Rezolucja | 1920×1080 |
| Prawdziwe efektywne piksele | 2 megapiksele |
| Metoda skupiania | Ręczne ustawianie ostrości |
| Format optyczny | 1/2" |
| Rozmiar piksela | 3,75 µm × 3,75 µm |
| Metoda wyjściowa | HDMI |
| Szczegółowe wprowadzenie funkcjonalne odpowiadające każdemu interfejsowi wyjściowemu | Złącze HDMI umożliwia podłączenie wyświetlaczy zgodnych z rozdzielczością 4K. Wbudowane profesjonalne oprogramowanie sprzętowe do przetwarzania obrazu rejestrowanie zdjęć, nagrywanie wideo, pomiary wymiarowe, odtwarzanie i porównywanie obrazów, obsługiwane przez myszy w czasie rzeczywistym. |
| Liczba klatek na sekundę | HDMI: 60 kl./s przy 1920*1080 |
| Synteza głębi ostrości | / |
| Zszywanie obrazu | / |
| Metoda pomiaru | Wbudowany system pomiarowy na monitorze |
| Dokładność pomiaru | 0,001 mm |
| Jednostki miary | mm / μm / mil / cal (4 przełączane jednostki) |
| Narzędzia pomiarowe | Długość, kąt, radian, okrąg, wielokąt, polilinia, odległość od środka do środka, prostokąt, adnotacja dodawanie, automatyczne wykrywanie krawędzi, pasek skali i inne |
| Metoda przechowywania | Pamięć U-dyskowa |
| Język wyświetlacza | Uproszczony chiński / angielski (przełączany) |
| Edytor | Dwurdzeniowy ARM Cortex-A7 @ maks. 1,3 GHz |
| System operacyjny | Niezależnie opracowane oprogramowanie pomiarowe oparte na jądrze Linux 3.1 |
| Nazewnictwo obrazu | Dostępne automatyczne lub ręczne nadawanie nazw |
| Głowa przeglądająca | Zawiasowa głowica trójokularowa nachylona pod kątem 30°; zakres regulacji międzyźrenicowej: 53 mm-75 mm |
| Tryby obserwacji | Jasne pole / oświetlenie ukośne / prosta polaryzacja |
| System oświetlenia | System oświetlenia padającego wyłącznie odbitego, wejście szerokonapięciowe 100-240 V, regulowany żarnik centrum, płynna regulacja natężenia światła. |
| Podstawka | ① Stojak strzelecki, współosiowy mechanizm ogniskowania zgrubnego i dokładnego umieszczony nisko, z blokadą i
ograniczające
urządzenia; Wartość podziałki drobnego ruchu: 0,7 μm. Oświetlenie światłem odbitym za pomocą lampy halogenowej. ② Jasne pole odbłyśnik ze zmiennym przysłoną, ogranicznikiem pola i modułem przełączającym filtr barwny. ③ Żółty, niebieski, zielony filtry i arkusz z matowego szkła dostarczone dla ścieżki optycznej światła odbitego. |
| Etap mechaniczny | ★ Mechaniczny ruchomy etap. Wymiary sceny: 280 mm × 270 mm; Skok X-Y: 204 mm × 204 mm (skok 8 cali). Szkło płyta nośna preparatu do obserwacji wyłącznie w świetle odbitym, odpowiednia do detali o dużych wymiarach. |
| Źródło światła | Komora lampy halogenowej 6V 30W (tylko światło odbite) |
| Prosta funkcja polaryzacji | Zainstalowany polaryzator i analizator typu push-pull |
| Interfejs elektroniczny | Interfejs kamery stałoogniskowej CTV 1X; CTV 0,5X jest opcjonalny z kompensacją różnicy cen. |
| Okulary | Dwa szerokokątne okulary plan-field WF10X/22 mm z indywidualną regulacją dioptrii |
| Nosek | ★ Obiektyw Mingchang z pięcioma otworami |
| Cele metalurgiczne | ★ Planachromatyczne cele metalurgiczne z korekcją do nieskończoności ① PL L5X/0,12, odległość robocza: 26,1 mm ×1 szt ② PL L10X/0,25, odległość robocza: 20,2 mm × 1 szt. ③ PL L20X/0,40, odległość robocza: 8,80 mm ×1 szt ④ PL L50X/0,70, odległość robocza: 3,68 mm × 1 szt. ⑤ PL L80X/0,80, odległość robocza: 1,25 mm ×1 szt |
| Powiększenie optyczne | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (przełączanie pięciostopniowe) |
| Powiększenie elektroniczne | Około. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (przełączanie pięciostopniowe); zakres opcjonalny: 190-3040X. |
Mikroskopy GAOPIN są używane przez wiodące przedsiębiorstwa, instytuty badawcze i uniwersytety. Nasza współpraca relacje obejmują:
Uniwersytet Handlowy w Tianjin – nauczanie w laboratoriach materiałowych, mikroobrazowanie i archiwizacja danych eksperymentalnych
DOOV – kontrola montażu urządzeń mobilnych, testowanie ekranu i wyglądu komponentów
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precyzyjny pomiar wymiarów i kontrola usterek części sprzętu AGD
Lens Technology Co., Ltd. – wykrywanie mikrodefektów w szklanych pokrywach i panelach ochronnych telefonów
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – wykrywanie wymiarów i mikrodefektów w obrabiarkach precyzyjnych części
Dabo Medical – Analiza mikromorfologiczna wyrobów medycznych i biomateriałów typu implanty
A1: Do wyświetlania na monitorze w czasie rzeczywistym zamontowany jest wyłącznie interfejs HDMI.
A2: Obsługuje nagrywanie zdjęć i wideo w wysokiej rozdzielczości 1080P. Pliki można zapisywać na dysku U w formacie FAT32 32 Pojemność GB. Wbudowane narzędzie pomiarowe na ekranie obsługuje oznaczanie wymiarów, zapisywanie danych i raportowanie pomiarów eksport.
A3: Rozwiązywanie problemów z brakiem obrazu: Sprawdź zasilacz, kabel HDMI i źródło sygnału monitora, a następnie uruchom ponownie urządzenie. Rozwiązywanie problemów z rozmazanym obrazem: wyreguluj pokrętło ręcznego ustawiania ostrości, zablokuj obiektyw, połóż próbkę płasko i wyczyść soczewkę powierzchnia. Błąd rozpoznawania dysku U: Wymień lub ponownie sformatuj dysk U (musi to być FAT32 i ≤32 GB).
A4: Nadaje się do obserwacji metalograficznych, analizy materiałów metalowych, badań metalurgii proszków, kontrola precyzyjnych podzespołów elektronicznych, eksperymenty naukowo-badawcze i dydaktyczne.
Firma Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. została oficjalnie założona w 2011 roku. Nasz zespół założycielski zgromadził doświadczenie w technice optycznej od 2005 roku. Jesteśmy producentem przemysłowego sprzętu inspekcyjnego dostarczającego usługi w pełnym zakresie: niezależny projekt optyczny, badania i rozwój produktu, sprzedaż międzynarodowa i długoterminowa wsparcie posprzedażowe do mikroskopów przemysłowych. Nasi wewnętrzni specjaliści ds. inżynierii posiadają ponad dziesięcioletnie doświadczenie zawodowe m.in rozwój przyrządów optycznych, zapewniający stabilne parametry techniczne i stałą niezawodność produktu.
GAOPIN dostarcza ponad sto kategorii instrumentów optycznych dla klientów na całym świecie. Dostarczamy elastyczne, ekonomiczne, dostosowane do indywidualnych potrzeb rozwiązania mikroskopowe, spełniające różnorodne testy przemysłowe i badania laboratoryjne wymagania. Kupujący z zagranicy na całym świecie mogą uzyskać szybką pomoc techniczną, w tym konsultacje wideo online, wskazówki dotyczące obsługi krok po kroku i zdalne szkolenie w zakresie sprzętu. Nasza fabryka znajduje się w Kunshan w prowincji Jiangsu (blisko Szanghaj). Mile widziane są wizyty w zakładach produkcyjnych i wirtualne wycieczki online. Skontaktuj się z nami, aby przeprowadzić prawdziwe badanie próbek obrazy uchwycone przez ten mikroskop metalograficzny klasy badawczej w celu oceny jakości obrazowania.
Adres
Budynek 2, Międzynarodowe Centrum Biznesowe Shuanglian, miasto Huaqiao, miasto Kunshan, Chiny
Tel
