GP-L500-324K to mikroskop metalograficzny klasy badawczej obsługujący rozdzielczość 4K Ultra HD. Obsługuje 5-stopniowe powiększenie przełączanie od 380× do 6080×. Wbudowany, bardzo duży ruchomy stolik pozwala wygodnie pomieścić próbki o dużych rozmiarach. Mikroskop metalurgiczny klasy badawczej 4K Ultra HD zapewnia 4K obrazy o ultrawysokiej rozdzielczości z ostrymi szczegółami mikrostruktury. Port trójokularowy umożliwia instalację kamery i połączenie oprogramowania do analizy metalograficznej. Idealnie nadaje się do obserwacji metalurgii materiałów wielkogabarytowych, półprzewodnik inspekcja, analiza wycinków PCB i przemysłowo-laboratoryjna kontrola jakości.
Ten mikroskop metalurgiczny klasy badawczej 4K Ultra HD nadaje się do mikroskopowych obserwacji mikrostruktur metalograficznych i morfologii powierzchni. To stanowi idealne narzędzie badawcze w dziedzinach metalurgii, mineralogii i inżynierii precyzyjnej.
Kamera 4K zintegrowana z obudową trinokularową do jednoczesnego oglądania przez okulary i monitor zewnętrzny. Dwuportowy wyjście HDMI i Gigabit LAN umożliwia transmisję mikroobrazów w rozdzielczości Ultra HD w czasie rzeczywistym.
Powiększenie optyczne 50-800×; maksymalne powiększenie cyfrowe osiąga 6080X (czysty zoom cyfrowy). obiektyw z pięcioma obiektywami zestaw. Precyzyjna ścieżka optyczna zapewnia ostre szczegóły podczas mikrokontroli chipów i płytek.
Współosiowe pokrętła ostrości dopasowane do wzmocnionego zespołu obiektywu i tubusu umożliwiają równomierne ustawianie ostrości i minimalizują drgania obrazu.
Bardzo duży ruchomy stolik na próbki w połączeniu z grubą zintegrowaną metalową podstawą. Pozostaje stabilny w przypadku próbek o dużych rozmiarach bez chybotać podczas długotrwałej obserwacji.
Minimalistyczna, zintegrowana, sztywna metalowa rama w stylu laboratoryjnym, doskonale nadająca się do warsztatów półprzewodnikowych i uniwersytetu laboratoria i urządzenia kontroli jakości.
Idealny do kontroli chipów i płytek, testowania półprzewodników, analiz metalograficznych, badań materiałowych, nauczanie akademickie oraz prace związane z oceną jakości.
Przechwytywanie zdjęć i filmów 4K, tryby podwójnego pomiaru (wbudowany ekran + oprogramowanie komputerowe). Podwójna pamięć za pośrednictwem dysku U i komputer. Funkcje syntezy głębi ostrości i łączenia obrazów działają wyłącznie w obsługiwanym oprogramowaniu komputerowym. Rozwój wtórny jest obsługiwane przez port LAN do archiwizacji, porównywania i zaawansowanej analizy obrazów.
Obserwacja obuoczna i synchroniczna obserwacja elektroniczna:Widok z okularu i wyświetlacz na monitorze działają synchronicznie. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne służą jedynie do obserwacji przez okular; są dodatkowe akcesoria do aparatu wymagane do wyświetlania obrazu na ekranie.
Wielkoformatowa scena, bardzo duże powiększenie i obrazowanie 4K:Osiąga maksymalne powiększenie optyczne 800X; maksymalne czysto cyfrowe powiększenie elektroniczne osiąga 6080X. Pomieści ponadwymiarową ruchomą scenę próbki wielkogabarytowe z natywną rozdzielczością 4K. Konwencjonalne mikroskopy metalurgiczne wykorzystują stolik roboczy o małych rozmiarach z niższą rozdzielczością i ograniczonym powiększeniem.
Interfejsy z dwoma wyjściami:Port HDMI + Gigabit-LAN. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne mają pojedynczy interfejs bez portu sieciowego do integracji systemu.
Tryby podwójnego pomiaru:Wbudowany pomiar offline na monitorze oraz pomiar za pomocą oprogramowania komputerowego. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne obsługują wyłącznie pomiary programowe po stronie komputera PC.
Tryby podwójnego przechowywania:Pamięć masowa U-disk offline i pamięć oprogramowania PC, dostępne zapisywanie danych z podłączonym komputerem lub bez niego. Konwencjonalne modele wymagają połączenia z komputerem w celu zapisania obrazu.
Obsługiwany rozwój wtórny:Port LAN umożliwia automatyczną integrację systemu. Generał mikroskopy metalurgiczne nie obsługują możliwości rozwoju wtórnego.
Dedykowany metalurgiczny tor optyczny:Zoptymalizowany pod kątem ziaren metalicznych, powłok i analiza metalograficzno-materiałowa. Zwykłym mikroskopom cyfrowym brakuje tej wyspecjalizowanej ścieżki optycznej i nie mogą wizualizować struktury metalograficzne.
Mechanika:Całkowicie metalowa konstrukcja zapewniająca wysoką sztywność i odporność na wibracje. Precyzja zgrubne i dokładne ogniskowanie bez luzu. Ręczny stolik XY o dużych rozmiarach, charakteryzujący się niskim zużyciem i minimalnym luzem. Trójokularowy ścieżka optyczna utrzymuje współosiowość optyczną podczas przełączania celów.
Optyka:Planachromatyczne obiektywy metalurgiczne z korekcją do nieskończoności, z twardą powłoką przeciwmgielną. Oświetlenie halogenowe światłem odbitym 6V-30W.
Obrazowanie i pomiary:Przemysłowa kamera CMOS o rozdzielczości 8,3 megapiksela i rozdzielczości 4K. Podwójne wyjście: HDMI + Gigabit-LAN port, dobre działanie przeciwzakłóceniowe do użytku w środowisku przemysłowym. Obsługuje wbudowany pomiar na monitorze i pomiar oprogramowania PC. Wstępnie skalibrowany fabrycznie; parametry nie ulegają zmianie po wyłączeniu zasilania; brak codziennej kalibracji wymagane. Dwuścieżkowa pamięć masowa za pośrednictwem dysku U i oprogramowania PC. Dostępna jest synteza głębi ostrości i łączenie obrazów tylko na oprogramowaniu PC. Interfejs rozwoju wtórnego jest dostępny poprzez port LAN.
Środowisko operacyjne:Temperatura pracy 10-35℃, wilgotność względna 30-75%RH. Stabilny poniżej poziomu regularnego fabryczne środowisko elektromagnetyczne. Unikaj silnych wibracji, żrącego gazu i ciężkiego pyłu.
Jakość i konserwacja:Inspekcja fabryczna całego elementu. Nie demontuj modułów optycznych. Regularne czyszczenie pyłoszczelne wydłuży żywotność.
Płytki i chipy półprzewodnikowe (zastosowanie podstawowe):
Płytki krzemowe, plastry litograficzne, chipy IC, lampy MOS, płytki PCB, obwody elastyczne FPC, pakowane złącza lutownicze.
Cele kontroli: wewnętrzne obwody mikrochipów, powłoki płytek, defekty trawienia, pęcherzyki opakowaniowe, lutowanie na zimno
połączeń, utleniania i deformacji sworzni.
Próbki metalograficzne i narzędzia do cięcia sprzętu:
Profile metalograficzne, stal stopowa, wiertła, frezy, precyzyjnie tłoczone części metalowe.
Cele kontroli: struktura ziaren metalu, analiza metalograficzna obróbki cieplnej, mikropęknięcia powierzchniowe,
najnowocześniejsze odpryski, zadziory, ślady zużycia i wewnętrzne zanieczyszczenia materiału.
Próbki laboratoryjne: proszek, włókno i cienkowarstwowa:
Proszek metalowy, proszek chemiczny, włókno węglowe, włókno tekstylne, folie z powłoką optyczną.
Obserwuj morfologię cząstek, teksturę włókien, rozwarstwienie folii i struktury mikropowłok.
Komponenty optoelektroniczne i precyzyjne z tworzyw sztucznych:
Chipy LED, soczewki optyczne, części formowane wtryskowo, klej do opakowań półprzewodników.
Wykryj mikropory, plamy powierzchniowe, szorstkie krawędzie, rozwarstwienia, pęcherzyki i drobne wady kosmetyczne.
Precyzyjne miniaturowe komponenty o dużych rozmiarach:
Złącza, końcówki, mikrosprężyny, detale wielkoformatowe, detale o długich wymiarach.
Bardzo duży ruchomy stolik mieści próbki o dużych rozmiarach; Dokładny pomiar przerw i dziur na poziomie 4K pikseli
średnice, różnice wysokości i wymiary liniowe.
Laboratoria akademickie i kontrola jakości w fabryce półprzewodników:
Eksperymenty materiałowo-badawcze, towary przychodzące i gotowe, pełna kontrola półprzewodników,
obserwacja metalograficzna próbek; archiwizacja zdjęć/wideo, podłącz do komputera, aby wyeksportować profesjonalne pomiary
Raporty kontroli jakości.
Rozbudowana duża platforma umożliwia pełną obserwację płytek, dużych płytek PCB i dużych kawałków metalu bez wycinanie próbek. Idealny do kontroli płytek półprzewodnikowych, płytek drukowanych i dużych podzespołów sprzętowych.
Stopniowo regulowane powiększenie: optyczne 50x-800x; maksymalne powiększenie cyfrowe do 6080X (czysty zoom cyfrowy). Przechwytuje ogólny wygląd przedmiotu obrabianego i bardzo drobne szczegóły, takie jak obwody wiórowe, ziarna metalu, mikrozarysowania i pory powłokowe. Idealny do testów badawczo-rozwojowych półprzewodników.
Trójokularowa synchroniczna ścieżka optyczna umożliwia jednoczesną obserwację przez okulary lornetkowe i monitor HDMI. Odpowiednie do dyskusji w zespołach badawczo-rozwojowych, podwójnej ponownej kontroli jakości i nauczania w laboratorium uniwersyteckim w celu ograniczenia błędnej oceny.
Pojedyncze wyjście HDMI z wbudowaną funkcją pomiaru na monitorze. Zdjęcia i filmy 4K można zapisywać bezpośrednio zgodny dysk U. Instalacja typu plug-and-play pasuje do podstawowych stacji kontrolnych w warsztatach półprzewodników i małe laboratoria materiałowe.
Gruby zintegrowany korpus antywibracyjny wraz z ręczną regulacją zgrubną i precyzyjną. Płynna regulacja ostrości bez przesunięcie obrazu podczas wielogodzinnej, ciągłej kontroli. Trwały do codziennego testu masy przychodzącej dla wafli i płytki drukowane oraz długotrwała statyczna analiza próbek laboratoryjnych.
Na życzenie dostępna jest wysyłka w neutralnym opakowaniu.
| Przedmiot | Opis |
| Produkt | GP-L500-324K Mikroskop metalograficzny klasy badawczej z rozdzielczością 4K Ultra HD |
| Kategoria | Trójokularowa inspekcja i pomiary metalurgiczne klasy badawczej na dużej platformie 4K Mikroskop |
| Podstawowe technologie | Trójokularowy, synchroniczny układ optyczny, wielkopowierzchniowy ruchomy stolik na próbki, duża moc metalurgiczny zestaw obiektyw-obiektyw, przetwornik obrazu 4K ultra-HD CMOS, system podwójnego pomiaru (wbudowany w monitorze) pomiar + pomiar oprogramowania PC), dwukanałowa transmisja sygnału HDMI+Gigabit-LAN, technologia podwójnego przechowywania, otwarta architektura obsługująca dokowanie w fazie rozwoju wtórnego |
| Kluczowe dane techniczne | Powiększenie wizualne: 50/100/200/500/800×; Powiększenie elektroniczne: 380/760/1520/3800/6080× (6080X to czysty zoom cyfrowy); Interfejsy z dwoma wyjściami: port HDMI + Gigabit-LAN; Rozdzielczość przechwytywania 4K: 3840×2160; Ręczne ustawianie ostrości tylko; Tryby podwójnego pomiaru: wbudowany precyzyjny pomiar + dedykowany pomiar za pomocą oprogramowania komputerowego; Podwójne przechowywanie tryby: lokalna pamięć U-disk + pamięć oprogramowania PC; Terminal monitorowy obsługuje pomiary wymiarowe, HD obraz podgląd, archiwizacja zdjęć i plików; Terminal PC obsługuje pomiary wymiarowe i zapisywanie obrazu; Cała jednostka obsługuje integrację z rozwojem wtórnym za pośrednictwem sieci LAN. |
| Typowe zastosowania | Inspekcja mikrostruktury płytek półprzewodnikowych i chipów, obserwacja wielkogabarytowych komponentów elektronicznych, metal analiza metalograficzno-ziarnista, detekcja obwodu opakowania, kontrola przekrojów PCB, testowanie jakości materiałów nowej energii, zaawansowane badania laboratoryjne nad materiałami uniwersyteckimi |
| Producent | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Lokalizacja producenta | Kunshan, Jiangsu, Chiny (w sąsiedztwie Szanghaju) |
| Model | GP-L500-324K |
| Rezolucja | 3840×2160 |
| Prawdziwe efektywne piksele | 8,3 megapiksela |
| Metoda skupiania | Tylko ręczne ustawianie ostrości |
| Format optyczny | 1/1,7" |
| Rozmiar piksela | 1,85 µm × 1,85 µm |
| Metoda wyjściowa | Port HDMI + Gigabit LAN Ethernet |
| Szczegółowe wprowadzenie funkcjonalne odpowiadające każdemu interfejsowi wyjściowemu | ① HDMI umożliwia podłączenie wyświetlaczy zgodnych z 4K. Wbudowane profesjonalne oprogramowanie sprzętowe do przetwarzania obrazu
rejestrowanie zdjęć, nagrywanie wideo, pomiary wymiarowe, odtwarzanie i porównywanie obrazów, obsługiwane
przez
myszy w czasie rzeczywistym. ② Port Gigabit LAN umożliwia podłączenie routerów, przełączników lub komputerów w celu uzyskania obrazu sieci transmisja. Komputery w tym samym segmencie sieci mogą odbierać wideo w czasie rzeczywistym i wyzwalać przechwytywanie przez pasujące oprogramowanie. |
| Liczba klatek na sekundę | HDMI: 60 kl./s przy 3840 × 2160 Gigabitowa sieć LAN: 20 kl./s przy 1920 × 1080 |
| Synteza głębi ostrości | / |
| Zszywanie obrazu | / |
| Metoda pomiaru | Wbudowany system pomiarowy na monitorze + pomiar za pomocą oprogramowania PC |
| Dokładność pomiaru | 0,001 mm |
| Jednostki miary | mm / μm / mil / cal (4 przełączane jednostki) |
| Narzędzia pomiarowe | Długość, kąt, radian, okrąg, wielokąt, polilinia, odległość od środka do środka, prostokąt, adnotacja dodawanie, automatyczne wykrywanie krawędzi, pasek skali i inne |
| Metoda przechowywania | Pamięć U-disk + pamięć oprogramowania PC |
| Język wyświetlacza | Uproszczony chiński / angielski (przełączany) |
| Edytor | Czterordzeniowy procesor ARM Cortex-A17 @ maks. 1,4 GHz główny procesor sterujący |
| System operacyjny | Niezależnie opracowane oprogramowanie pomiarowe oparte na jądrze Linux 3.1 |
| Nazewnictwo obrazu | Dostępne automatyczne lub ręczne nadawanie nazw |
| Głowa przeglądająca | Zawiasowa głowica trójokularowa nachylona pod kątem 30°; zakres regulacji międzyźrenicowej: 53 mm-75 mm |
| Tryby obserwacji | Jasne pole / oświetlenie ukośne / prosta polaryzacja |
| System oświetlenia | System oświetlenia padającego wyłącznie odbitego, wejście szerokonapięciowe 100-240 V, regulowany żarnik centrum, płynna regulacja natężenia światła. |
| Podstawka | ① Stojak strzelecki, współosiowy mechanizm ogniskowania zgrubnego i dokładnego umieszczony nisko, z blokadą i
ograniczające
urządzenia; Wartość podziałki drobnego ruchu: 0,7 μm. Oświetlenie światłem odbitym za pomocą lampy halogenowej. ② Jasne pole odbłyśnik ze zmiennym przysłoną, ogranicznikiem pola i modułem przełączającym filtr barwny. ③ Żółty, niebieski, zielony filtry i arkusz z matowego szkła dostarczone dla ścieżki optycznej światła odbitego. |
| Etap mechaniczny | ★ Mechaniczny ruchomy etap. Wymiary sceny: 280 mm × 270 mm; Skok X-Y: 204 mm × 204 mm (skok 8 cali). Szkło płyta nośna preparatu do obserwacji wyłącznie w świetle odbitym, odpowiednia do detali o dużych wymiarach. |
| Źródło światła | Komora lampy halogenowej 6V 30W (tylko światło odbite) |
| Prosta funkcja polaryzacji | Zainstalowany polaryzator i analizator typu push-pull |
| Interfejs elektroniczny | Interfejs kamery stałoogniskowej CTV 1X; CTV 0,5X jest opcjonalny z kompensacją różnicy cen. |
| Okulary | Dwa szerokokątne okulary plan-field WF10X/22 mm z indywidualną regulacją dioptrii |
| Nosek | ★ Obiektyw Mingchang z pięcioma otworami |
| Cele metalurgiczne | ★ Planachromatyczne cele metalurgiczne z korekcją do nieskończoności ① PL L5X/0,12, odległość robocza: 26,1 mm ×1 szt ② PL L10X/0,25, odległość robocza: 20,2 mm × 1 szt. ③ PL L20X/0,40, odległość robocza: 8,80 mm ×1 szt ④ PL L50X/0,70, odległość robocza: 3,68 mm × 1 szt. ⑤ PL L80X/0,80, odległość robocza: 1,25 mm ×1 szt |
| Powiększenie optyczne | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (przełączanie pięciostopniowe) |
| Powiększenie elektroniczne | Około. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (przełączanie pięciostopniowe); zakres opcjonalny: 190-3040X. |
Mikroskopy GAOPIN są używane przez wiodące przedsiębiorstwa, instytuty badawcze i uniwersytety. Nasza współpraca relacje obejmują:
Uniwersytet Tsinghua - nauczanie, obrazowanie laboratoryjne i archiwizacja danych eksperymentalnych
Uniwersytet Fudan - Mikronanomateriały i biomedyczne badania mikroskopowe-obserwacyjne
Dabo Medical – Analiza mikromorfologiczna wyrobów medycznych i biomateriałów typu implant
Uniwersytet Handlowy w Tianjin – nauczanie w laboratoriach materiałowych, mikroobrazowanie i archiwizacja danych eksperymentalnych
Uniwersytet Xi'an Jiaotong - zaawansowana nauka o materiałach i precyzyjna optyka, obserwacje eksperymentalne
GREE Electric Appliances (Hefei) – Precyzyjny pomiar wymiarów i kontrola usterek części sprzętu AGD
A1: Wyposażony w port HDMI + Gigabit-LAN. Obsługuje bezpośredni wyświetlacz na monitorze i połączenie sieciowe z komputerem.
A2: Obsługuje nagrywanie zdjęć i wideo w rozdzielczości 4K ultra-HD. Pliki można zapisywać na dysku U w formacie FAT32 o wielkości 32 GB pojemność. Obsługuje pomiary zarówno na ekranie, jak i za pomocą oprogramowania komputerowego, z funkcjami zapisywania danych i eksportu raportów.
A3: Rozwiązywanie problemów z brakiem obrazu: Sprawdź zasilacz, kabel HDMI i źródło sygnału monitora, a następnie uruchom ponownie urządzenie. Rozwiązywanie problemów z rozmazanym obrazem: wyreguluj pokrętło ręcznego ustawiania ostrości, połóż próbkę płasko i wyczyść powierzchnię soczewki. Awaria sieci rozwiązywanie problemów: Ustaw komputer i urządzenie w tym samym segmencie IP, wyłącz zaporę sieciową i ponownie podłącz kabel sieciowy. Błąd dysku U rozwiązywanie problemów: Wymień lub sformatuj ponownie dysk U (musi to być FAT32 i ≤32 GB).
Odpowiedź 4: Rozwój wtórny jest obsługiwany przez port LAN. Szeroko stosowany do analizy metalograficznej, materiałów metalowych testowanie, metalurgia proszków, kontrola półprzewodników, kontrola komponentów precyzyjnych, badania naukowo-badawcze i eksperymenty dydaktyczne.
Firma Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. została formalnie założona w 2011 roku. Nasz zespół założycieli i liderów zgromadził doświadczenie w branży sprzętu do kontroli optycznej od 2005 roku. Dostarczamy kompleksowe rozwiązania obejmujące projektowanie systemów optycznych, niezależne badania i rozwój, ogólnoświatowa dystrybucja produktów i długoterminowa konserwacja posprzedażna usługi. Nasz oddany główny personel inżynieryjny posiada ponad dziesięcioletnie doświadczenie w praktycznym rozwoju w przyrządy optyczne, zapewniające stabilną, sprawdzoną technologię i niezawodną jakość.
GAOPIN utrzymuje szeroką gamę produktów składającą się z ponad 100 różnych przyrządów do kontroli optycznej, obsługujących klientów przemysłowych i laboratoryjnych na rynkach międzynarodowych. Koncentrujemy się głównie na opracowywaniu „szytych na miarę”, ekonomiczne rozwiązania w zakresie mikroskopii, spełniające unikalne wymagania różnych branż w zakresie kontroli.
Partnerom zagranicznym oferujemy szybką, globalną pomoc techniczną, w tym wideokonferencje online, wideo-instrukcje operacyjne krok po kroku i zdalne szkolenie użytkowników na żywo. Nasza baza produkcyjna znajduje się w Kunshan, Jiangsu Prowincja z dogodnym połączeniem komunikacyjnym z Szanghajem. Inspekcje na miejscu w fabryce i wirtualne wycieczki online mile widziany. Prosimy o kontakt z naszym zespołem sprzedaży w celu uzyskania autentycznych zdjęć z testów próbek zarejestrowanych za pomocą tej metalografii badawczej mikroskop z rozdzielczością 4K Ultra HD do oceny rzeczywistej wydajności obrazowania.
Adres
Budynek 2, Międzynarodowe Centrum Biznesowe Shuanglian, miasto Huaqiao, miasto Kunshan, Chiny
Tel
