GP-L700-324K to mikroskop metalurgiczny klasy badawczej 4K o dużej odległości roboczej i rozdzielczości 4K Ultra HD, wyposażony w Planachromatyczne cele o dużej odległości roboczej z korekcją do nieskończoności. Mikroskop metalurgiczny o dużej odległości roboczej 4K Ultra HD zapewnia dużą przestrzeń roboczą i zapewnia płaski, ostry obraz w całym polu widzenia z dobrze skorygowaną aberracją chromatyczną i polem krzywizna. Wbudowany system obrazowania 4K rejestruje drobne mikroszczegóły. Port Trinocular obsługuje oprogramowanie do analizy obrazu połączenie. Idealny do badań metalograficznych, kontroli płytek półprzewodnikowych i analizy defektów powierzchni.
Ten mikroskop metalurgiczny o dużej odległości roboczej 4K Ultra HD nadaje się do testowania precyzyjnych komponentów, układów scalonych i produktów materiałów opakowaniowych.
Mechanika:Całkowicie metalowa konstrukcja zapewniająca wysoką sztywność i odporność na wibracje. Bardzo długi odległość robocza do obserwacji próbek na dużej wysokości. Precyzyjne ogniskowanie zgrubne i dokładne bez luzów. Odporny na zużycie ręczny stopień mechaniczny XY. Trójokularowa ścieżka optyczna utrzymuje współosiowość optyczną podczas zmiany celów.
Optyka:Planachromatyczne obiektywy metalurgiczne z korekcją do nieskończoności, z twardą powłoką przeciwmgielną. Oświetlenie halogenowe światłem odbitym 6V-30W.
Obrazowanie i pomiary:Przemysłowa kamera CMOS o rozdzielczości 8,3 megapiksela i rozdzielczości 4K. Podwójne wyjście: HDMI + Gigabit-LAN port, dobre działanie przeciwzakłóceniowe do zastosowań przemysłowych. Obsługuje wbudowany pomiar na monitorze i pomiar oprogramowania PC. Wstępnie skalibrowany fabrycznie; parametry nie ulegają zmianie po wyłączeniu zasilania; nie wymagana codzienna kalibracja. Dwuścieżkowa pamięć masowa za pośrednictwem dysku U i oprogramowania PC. Synteza głębi ostrości i łączenie obrazów dostępne tylko w oprogramowaniu PC. Dodatkowy interfejs programistyczny dostępny przez Gigabit-LAN.
Środowisko operacyjne:Temperatura pracy 10-35℃, wilgotność względna 30-75%RH. Stabilny pod zwykłe-fabryczne-środowisko elektromagnetyczne. Unikaj silnych wibracji, żrącego gazu i ciężkiego pyłu.
Jakość i konserwacja:Inspekcja fabryczna całego elementu. Nie demontuj modułów optycznych. Regularne czyszczenie pyłoszczelne wydłuży żywotność.
1. Powiększenie:Czterobiegowe, duże powiększenie 380–3800X dla mikrostruktury ziaren i wiórów obserwacja. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne mają mniejsze maksymalne powiększenie i rozmyte obrazy przy dużej mocy, i nie może obserwować drobnych ziaren metalu.
2. System obrazowania:Kamera klasy badawczej o natywnej rozdzielczości 4K, zsynchronizowany obraz z okularu i monitora. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne wykorzystują kamerę o niskiej rozdzielczości 2K i oglądają tylko przez okular.
3. Pomiar i przechowywanie:Wbudowany precyzyjny pomiar na monitorze, przechwytywanie zdjęć i wideo archiwizacja dowodów testowych. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne nie mają wbudowanych pomiarów i wymagają oprogramowania komputerowego wszystkie prace związane z pomiarami i zapisywaniem plików.
4. Zakres zastosowania:Zoptymalizowany do precyzyjnej kontroli płytek, chipów półprzewodnikowych i metalu ziarna. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne nadają się tylko do prostych obserwacji plasterków metalu o słabej jakości wydajność w przypadku próbek o drobnej jakości chipów.
Kamera 4K wbudowana w obudowę trójokularową do jednoczesnego oglądania przez okular i monitor. Wyjście dwuportowe przez HDMI i Gigabit-LAN przesyła wyjątkowo wyraźne mikrografy w czasie rzeczywistym.
Precyzyjna ścieżka optyczna soczewki wielowarstwowej z czterostopniowym powiększeniem; maksymalne powiększenie cyfrowe do 3800X, dostarczanie ostre szczegóły mikrostruktury na poziomie mikrona do kontroli płytek, wiórów i ziaren.
Skoordynowane pokrętła ostrości i wzmocniony zespół obiektywu umożliwiają stabilne, pozbawione wibracji ustawianie ostrości, idealnie dopasowane dla dokładna kontrola pod bardzo dużym powiększeniem. Tylko ręczne ustawianie ostrości.
Ponadgabarytowa, gruba, kwadratowa metalowa podstawa zapewnia stabilną równowagę ciężaru, eliminując przesuwanie się lub drżenie podczas pracy długo ciągłe obserwacja o dużej mocy.
Sztywna czarno-biała metalowa obudowa z oddzielnym odłączanym modułem źródła światła, minimalistyczny, profesjonalny design laboratoria i linie do produkcji półprzewodników.
Zoptymalizowany pod kątem kontroli płytek i wiórów; również szeroko stosowane w analizie metalograficznej, zaawansowanych badaniach materiałowych, praca akademicka-dydaktyczna i precyzyjna-przemysłowa-kontrola jakości.
Przechwytywanie zdjęć i filmów 4K, tryby podwójnego pomiaru (wbudowany ekran + oprogramowanie komputerowe). Podwójna pamięć za pośrednictwem dysku U i komputer. Funkcje syntezy głębi ostrości i łączenia obrazów działają wyłącznie w obsługiwanym oprogramowaniu komputerowym. Rozwój wtórny obsługiwany przez port LAN do archiwizacji obrazów, porównywania i zaawansowanej analizy danych.
Półprzewodniki i mikroelektronika (aplikacja podstawowa):
Płytki krzemowe, plastry litograficzne, chipy IC, lampy MOS, płytki PCB, obwody elastyczne FPC, pakowane złącza lutownicze.
Cele kontroli: wzory obwodów mikrochipów, defekty trawienia płytek, zadrapania powłoki, pęcherzyki na opakowaniu,
złącza lutowane na zimno, utlenianie i deformacja styków.
Metalograficzne próbki metali i narzędzia do cięcia metalu:
Profile metalograficzne ze stopów, plastry stali, precyzyjnie tłoczony osprzęt metalowy.
Cele kontroli: struktura ziaren metalu, analiza metalograficzna obróbki cieplnej, mikropęknięcia powierzchniowe,
najnowocześniejsze odpryski, zadziory, ślady zużycia i wewnętrzne zanieczyszczenia materiału.
Próbki laboratoryjne: kryształy, proszki i cienkie warstwy:
Pojedyncze/polikryształy, proszek metalowy, proszek chemiczny, powłoki optyczne, materiały ultracienkie.
Obserwuj siatki mikrokrystaliczne, morfologię ultradrobnych cząstek, rozwarstwianie folii i tekstury mikropowłok.
Optoelektroniczne elementy precyzyjne z tworzyw sztucznych:
Chipy LED, soczewki ze szkła optycznego, klej do opakowań półprzewodnikowych.
Wykryj mikropory, nanorysy, rozwarstwienia kleju, bąbelki i subtelne nierówności powierzchni.
Miniaturowe komponenty precyzyjne:
Złącza, zaciski, mikrosprężyny, małe, precyzyjnie wytłaczane elementy.
Dokładny pomiar na poziomie 4K pikseli pod kątem przerw, średnic otworów, różnic w skoku i wysokości powierzchni; obserwuj subtelnie
odkształcenie zaciskowe.
Laboratoria uniwersyteckie i kontrola jakości wysokiej klasy półprzewodników:
Eksperymenty w zakresie badań materiałowych, analiza nauczania metalurgii, kontrola pobierania próbek towarów przychodzących i gotowych;
archiwizacja foto-wideo, eksport precyzyjnych raportów kontroli jakości do komputera PC.
Wyposażony w natywną rozdzielczość 3840*2160 4K Ultra HD. Nadaje się do kontroli metalograficznej płytek i analiza materiałów metalowych; wyraźnie widać granice ziaren, mikrorysy i drobne mikrodefekty.
Konstrukcja z ręcznym ustawianiem ostrości pasuje do próbek laboratoryjnych i badań materiałów uniwersyteckich. Jednolite stabilne dostrajanie wspiera długoterminową obserwację próbek statycznych.
Niezależne, dzielone, koncentryczne źródło światła do płytek półprzewodnikowych, próbek metali i precyzyjnych wycinków PCB. Pionowe Oświetlenie współosiowe tłumi odblaski metali i przywraca prawdziwe tekstury metalograficzne.
Zakres podwójnego powiększenia: powiększenie optyczne 50-500X, powiększenie cyfrowe 380-3800X. Obejmuje zarówno pełny okaz przegląd i kontrola mikroziaren/mikrodefektów.
Obsługuje wbudowane pomiary na urządzeniu i pomiary za pomocą oprogramowania komputerowego. Wyposażony w podwójne wyjście HDMI i Gigabit-LAN porty. Zdjęcia, filmy i dane pomiarowe można zapisywać na zgodnym dysku U lub komputerze. Rozwój wtórny wspierane w zakresie integracji linii produkcyjnej i identyfikowalności danych laboratoryjnych.
Na życzenie dostępna jest wysyłka w neutralnym opakowaniu.
| Przedmiot | Opis |
| Model produktu | GP-L700-324K Mikroskop metalurgiczny o dużej odległości roboczej i rozdzielczości 4K Ultra HD |
| Kategoria produktu | Pionowy mikroskop metalurgiczny o dużym powiększeniu, klasy badawczej, z dzielonym oświetleniem pionowym Światło Źródło |
| Podstawowe technologie | Trójokularowy, synchroniczny układ optyczny, niezależny, dzielony współosiowy moduł pionowego źródła światła, zestaw metalurgicznych obiektywów o wysokiej rozdzielczości, przetwornik obrazu 4K ultra-HD CMOS, podwójny system pomiarowy (wbudowany precyzyjny pomiar w urządzeniu + pomiar za pomocą oprogramowania PC), sygnał dwukanałowy HDMI+Gigabit-LAN transmisja, rozwiązanie z dwoma magazynami, otwarta architektura wspierająca dokowanie w fazie rozwoju wtórnego |
| Kluczowe dane techniczne | Powiększenie optyczne: 50/100/200/500×; Powiększenie elektroniczne: 380/760/1520/3800×; Podwójne wyjście interfejsy: HDMI + port Gigabit-LAN; Rozdzielczość przechwytywania 4K: 3840×2160; Tryb ustawiania ostrości: Ręczne ustawianie ostrości; Tryby podwójnego pomiaru: wbudowany precyzyjny pomiar + dedykowany pomiar za pomocą oprogramowania komputerowego; Podwójne przechowywanie tryby: lokalna pamięć U-disk + pamięć oprogramowania PC; Monitoruj funkcje terminala: Pomiar wymiarowy, HD przeglądanie obrazów, archiwizacja zdjęć; Funkcje terminala PC: Pomiar wymiarowy, przechowywanie zdjęć; Uwaga: Obsługuje integrację z rozwojem wtórnym. |
| Typowe scenariusze zastosowań | Obserwacja ziaren płytek i chipów, kontrola wad opakowań półprzewodników, ziarna metalu analiza struktury metalograficznej, precyzyjne wykrywanie drobnych wad obwodów, awarie komponentów elektronicznych analiza, nowe-materiały-laboratorium-badania-naukowe |
| Producent | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Adres fabryczny | Miasto Kunshan, prowincja Jiangsu, Chiny (obok Szanghaju) |
| Model | GP-L700-324K |
| Rezolucja | 3840×2160 |
| Prawdziwe efektywne piksele | 8,3 megapiksela |
| Metoda skupiania | Ręczne ustawianie ostrości |
| Format optyczny | 1/1,7" |
| Rozmiar piksela | 1,85 µm × 1,85 µm |
| Metoda wyjściowa | Port HDMI + Gigabit Ethernet LAN |
| Szczegółowe wprowadzenie funkcjonalne odpowiadające każdemu interfejsowi wyjściowemu | ① HDMI umożliwia podłączenie wyświetlaczy zgodnych z 4K. Wbudowane profesjonalne oprogramowanie sprzętowe do przetwarzania obrazu
rejestrowanie zdjęć, nagrywanie wideo, pomiary wymiarowe, odtwarzanie i porównywanie obrazów, obsługiwane
myszką w czasie rzeczywistym. ② Port Gigabit LAN umożliwia podłączenie routerów, przełączników lub komputerów w sieci obraz transmisja. Komputery w tym samym segmencie sieci mogą odbierać wideo w czasie rzeczywistym i wyzwalać przechwytywanie za pomocą odpowiedniego oprogramowania. |
| Liczba klatek na sekundę | HDMI: 60 kl./s przy 3840 × 2160 Gigabitowa sieć LAN: 20 kl./s przy 1920 × 1080 |
| Synteza głębi ostrości | / |
| Zszywanie obrazu | / |
| Metoda pomiaru | Wbudowany system pomiarowy na monitorze + pomiar za pomocą oprogramowania PC |
| Dokładność pomiaru | 0,001 mm |
| Jednostki miary | mm / μm / mil / cal (4 przełączane jednostki) |
| Narzędzia pomiarowe | Długość, kąt, radian, okrąg, wielokąt, polilinia, odległość od środka do środka, prostokąt, adnotacja dodawanie, automatyczne wykrywanie krawędzi, pasek skali i inne |
| Metoda przechowywania | Pamięć U-disk + pamięć oprogramowania PC |
| Język wyświetlacza | Uproszczony chiński / angielski (przełączany) |
| Edytor | Czterordzeniowy ARM Cortex-A17 przy maks. Główny procesor sterujący 1,4 GHz |
| System operacyjny | Niezależnie opracowane oprogramowanie pomiarowe oparte na jądrze Linux 3.1 |
| Nazewnictwo obrazu | Dostępne automatyczne lub ręczne nadawanie nazw |
| Głowa przeglądająca | Zawiasowa głowica trójokularowa nachylona pod kątem 30°; zakres regulacji międzyźrenicowej: 53-75 mm |
| Tryby obserwacji | Jasne pole / oświetlenie ukośne / prosta polaryzacja |
| System oświetlenia | System oświetlenia padającego, wejście o szerokim napięciu 100-240 V, regulowany środek żarnika, płynna regulacja natężenia światła. |
| Podstawka | ① Stojak strzelecki, współosiowy mechanizm ogniskowania zgrubnego i dokładnego z urządzeniami blokującymi i ograniczającymi;
Wartość podziałki drobnego ruchu: 2 μm. Oświetlenie światłem odbitym za pomocą lampy halogenowej. ② Jasne pole odbłyśnik ze zmiennym przysłoną, ogranicznikiem pola i modułem przełączającym filtr barwny. ③ Żółty, niebieski, filtry zielone i arkusz z matowego szkła dostarczone dla ścieżki optycznej światła odbitego. |
| Etap mechaniczny | Wymiary podstawy: 300 mm × 240 mm; Wymiary sceny: 185 mm × 140 mm; Skok X-Y: 35 mm × 30 mm. Odpowiednie dla obserwacji przedmiotów obrabianych o stosunkowo dużej wysokości. |
| Źródło światła | Komora lampy halogenowej 6V 30W (tylko światło odbite). |
| Prosta funkcja polaryzacji | Zainstalowany polaryzator i analizator typu push-pull |
| Interfejs elektroniczny | 1X interfejs kamery z mocowaniem C, nieregulowana ostrość; CTV 0,5X jest opcjonalny z różnicą cen odszkodowanie. |
| Okulary | Dwa szerokokątne okulary plan-field WF10X/22 mm z indywidualną regulacją dioptrii |
| Nosek | ★ Obiektyw Mingchang z pięcioma otworami |
| Cele metalurgiczne | ★ Planachromatyczne cele metalurgiczne z korekcją do nieskończoności ① PL L5X/0,12, odległość robocza: 26,1 mm ×1 szt ② PL L10X/0,25, odległość robocza: 20,2 mm × 1 szt. ③ PL L20X/0,40, odległość robocza: 8,80 mm ×1 szt ④ PL L50X/0,70, odległość robocza: 3,68 mm × 1 szt. ⑤ PL L100X/0,85, odległość robocza: 0,40 mm (opcjonalne, nie zawarte w pakiecie standardowym) |
| Powiększenie optyczne | 50X, 100X, 200X, 500X (przełączanie czteropoziomowe) |
| Powiększenie elektroniczne | Około. 380X, 760X, 1520X, 3800X (przełączanie czteropoziomowe); opcjonalny zakres powiększeń: 190-1900X. |
Zastrzeżenie:Pojawiające się logo i nazwy przedsiębiorstw, uczelni i instytucji badawczych tylko ta strona internetowa wskazują, że takie podmioty zakupiły lub wykorzystywały mikroskopy marki GAOPIN. Ich wygląd nie będzie interpretowane jako zakup tego dokładnego modelu produktu i nie będzie oznaczać żadnego komercyjnego poparcia, co-brandingu, przynależności ani partnerstwo w ramach wspólnego projektu z tymi organizacjami zewnętrznymi.
Mikroskopy GAOPIN są używane przez wiodące przedsiębiorstwa, instytuty badawcze i uniwersytety. Nasza współpraca relacje obejmują:
Huawei Electronics — kontrola przychodzących materiałów i kontrola jakości linii produkcyjnej komponentów elektronicznych
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopowa kontrola wymiarów dla zautomatyzowane, precyzyjnie obrobione części
NIO Shanghai – Precyzyjna kontrola części samochodowych i wiązek elektrycznych do nowych źródeł energii
Uniwersytet Tsinghua - nauczanie, obrazowanie laboratoryjne i archiwizacja danych eksperymentalnych
Dabo Medical – Analiza mikromorfologiczna implantów-wyrobów medycznych i biomateriałów
Uniwersytet Fudan - Mikronanomateriały i biomedyczne badania mikroskopowe-obserwacyjne
Firma Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. została oficjalnie założona w 2011 roku. Nasz zespół założycielski zgromadził bogate doświadczenie w branży przyrządów do kontroli optycznej od 2005 roku. Świadczymy usługi w pełnym cyklu obejmujące projektowanie produktów, własne badania i rozwój, sprzedaż globalna i kompleksowe usługi konserwacji posprzedażnej. Nasz wykwalifikowany zespół inżynierów ma ponad dziesięcioletnie doświadczenie w rozwoju przyrządów optycznych, aby zapewnić stabilna wydajność techniczna i niezawodna jakość produktu.
GAOPIN dostarcza ponad sto kategorii obsługujących przyrządy do testowania optycznego klienci przemysłowi i laboratoryjni na całym świecie. Opracowujemy elastyczne, ekonomiczne, dostosowane do indywidualnych potrzeb rozwiązania mikroskopowe różnorodna kontrola jakości w przemyśle i projekty-analiz laboratoryjnych.
Kupującym z zagranicy zapewniamy ogólnoświatową pomoc techniczną, w tym zdalne konsultacje online, praktyczne- samouczki wideo i szkolenia na żywo w zakresie zdalnej obsługi sprzętu. Nasz zakład produkcyjny znajduje się w Kunshan, Jiangsu Prowincja (blisko Szanghaju). Mile widziane są wizyty w fabryce na miejscu i wirtualne wycieczki online. Prosimy o kontakt z naszym zespół sprzedaży zajmujący się autentycznymi zdjęciami testującymi próbki wykonanymi za pomocą tego mikroskopu metalurgicznego o dużej odległości roboczej z 4K Ultra HD do oceny rzeczywistej wydajności obrazowania.
A1: Wyposażony w podwójne interfejsy wyjścia HDMI o wysokiej rozdzielczości i portu LAN. Obsługuje obrazowanie w czasie rzeczywistym za pomocą łączenie bezpośrednio do monitora i połączenie z komputerem za pomocą kabla sieciowego. Bez interfejsów USB i WIFI obsługuje oba niezależna praca i współpraca komputerowa.
A2: Obsługuje nagrywanie zdjęć i filmów w rozdzielczości 4K ultra-HD oraz przechowuje pliki na dysku U FAT32 (w obrębie 32 GB). Obsługuje dual precyzyjny pomiar na ekranie i w oprogramowaniu komputerowym, w tym oznaczanie wymiarów, zapisywanie danych i eksport-raportu-pomiaru funkcje, spełniające wymagania dotyczące precyzyjnego wykrywania i archiwizacji.
A3: Sprawdź zasilanie urządzenia i dopasowany zasilacz, mocno podłącz kabel HDMI, przełącz monitor na odpowiedni-HDMI- kanał sygnałowy, uruchom ponownie urządzenie, aby rozwiązać problemy z czarnym ekranem i brakiem obrazu.
A4: Przyjmując precyzyjną konstrukcję ręcznego ustawiania ostrości, powoli reguluj pokrętło ostrości, aby uzyskać wyraźny obraz. Blokada obiektywu mocno, połóż próbkę na płasko i regularnie czyść kurz i plamy na soczewce za pomocą profesjonalnych narzędzi, aby zapewnić przejrzystość i przejrzystość dokładne obrazowanie.
A5: Upewnij się, że urządzenie i komputer są ustawione na ten sam segment IP, wyłącz zaporę komputerową i oprogramowanie przechwytujące, ponownie podłącz kabel sieciowy, zrestartuj urządzenie i pomocnicze oprogramowanie pomiarowe, aby uzyskać normalne połączenie.
A6: Urządzenie obsługuje wyłącznie dyski U-diski FAT32 w obrębie 32G i nie obsługuje dysków U o dużej pojemności w systemach NTFS i exFAT. Dla rozpoznania nie powiodło się, podłącz ponownie lub sformatuj dysk U lub zastąp go zgodnym dyskiem U w celu normalnego przechowywania plików.
Adres
Budynek 2, Międzynarodowe Centrum Biznesowe Shuanglian, miasto Huaqiao, miasto Kunshan, Chiny
Tel
