Produkty

Produkty

Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek
  • Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytekMikroskop metalurgiczny do kontroli płytek
  • Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytekMikroskop metalurgiczny do kontroli płytek

Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek

Model:GP-L600-300C
GAOPIN jest profesjonalnym producentem i hurtowym dostawcą wysokiej jakości wyrobów metalurgicznych przemysłowych i naukowych mikroskopy w Chinach. Koncentrujemy się na badaniach i rozwoju, produkcji i dostawach hurtowych instrumentów do precyzyjnej kontroli, w tym Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek dla globalnych odbiorców przemysłowych i badawczych. Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek to: mikroskop metalurgiczny klasy badawczej obsługujący przełączanie pola jasnego i ciemnego. Umożliwia bezpośredni pomiar po podłączeniu do monitora zapewnia intuicyjny i wydajny przebieg prac związanych z wykrywaniem mikroskopowym. Wyposażony w niezawodne wydajność i dojrzała technologia produkcji, model ten obsługuje zamówienia masowe, dostosowywanie konfiguracji i kompleksowe zakupy, doskonale spełniające wymagania analiz naukowo-badawczych i dużych partii kontroli przemysłowych.

Mikroskop metalurgiczny GP-L600-300C do kontroli płytek to mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek, specjalnie zaprojektowany do badania mikrostruktury materiałów inspekcja. Wyposażony w układ optyczny światła odbitego o wysokiej rozdzielczości i funkcję interferencji różnicowej DIC generuje obrazy stereo-reliefowe do obserwacji struktur ziarnistych, pęknięć, wtrąceń i warstw powłokowych metali, stopów, półprzewodniki i inne materiały. Dzięki wbudowanej kamerze przemysłowej obsługuje przechwytywanie obrazu i wyświetlanie go na monitorze pomiar; Ocena wielkości ziarna jest dostępna z opcjonalnym oprogramowaniem pomocniczym. Szeroko stosowane w kontrola jakości, scenariusze analizy awarii i badań w zakresie materiałoznawstwa.

Wafer Inspection Metallurgical MicroscopeWafer Inspection Metallurgical Microscope

Zakres zastosowania

Ten mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek jest odpowiedni do mikroskopowej obserwacji mikrostruktur metalograficznych i morfologii powierzchni. To stanowi idealne narzędzie badawcze w dziedzinach metalurgii, mineralogii i inżynierii precyzyjnej.

Różnice w stosunku do konwencjonalnych mikroskopów metalurgicznych

1. Obserwacja obuoczna i synchroniczna obserwacja elektroniczna:Widok z okularu i wyświetlacz monitora pracować synchronicznie. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne służą jedynie do obserwacji przez okular; dodatkowe akcesoria do aparatu są wymagane do wyświetlania obrazu na ekranie.

2. Korpus mechaniczny o wysokiej precyzji:Odpowiednia sztywna konstrukcja mechaniczna ze stabilną ścieżką optyczną do prac związanych z półprzewodnikami i analizą materiałów. Konwencjonalne mikroskopy metalurgiczne zapewniają niższą dokładność mechaniczną precyzja.

3. Bezpośrednie wyjście HDMI:Wyjście obrazu w czasie rzeczywistym do monitorowania za pomocą kabla HDMI. Ogólne metalurgiczne mikroskopy wymagają oddzielnych kamer i kart przechwytujących w celu uzyskania obrazu.

4. Pomiar offline na monitorze:Pomiar wymiarów można wykonać bezpośrednio na monitorze bez połączenia z komputerem. Zwykłe mikroskopy metalurgiczne opierają się wyłącznie na pomiarach za pomocą oprogramowania komputerowego.

5. Przechowywanie dysku U w trybie offline:Zapisuj zdjęcia i filmy na dysku U bez użycia komputera. Tradycyjny modele muszą być podłączone do komputera w celu zapisania obrazu.

6. Dedykowany metalurgiczny tor optyczny:Zoptymalizowany pod kątem ziaren metalicznych, powłok, półprzewodników i kontrola metalograficzna. Zwykłym mikroskopom cyfrowym brakuje tej wyspecjalizowanej ścieżki optycznej i nie mogą wizualizować Struktury metalograficzne.

Unikalne zalety projektu

1. Zintegrowane synchroniczne obrazowanie CCD

Kamera HD wbudowana w obudowę trójokularową do jednoczesnego oglądania przez okular i monitor. Mikroobraz HDMI w czasie rzeczywistym Dane wyjściowe łączą przebieg obserwacji i nagrywania.

2. Wielomodowy system optyczny o wysokiej rozdzielczości

Obsługuje obserwację DIC, jasnego, ciemnego pola i światła spolaryzowanego. Powiększenie 4-stopniowe, optyczne 50-500X, max cyfrowy powiększenie do 1900X, zapewniające ostre szczegóły do kontroli mikroelementów.

3. Bardzo precyzyjny, płynny mechanizm ręcznego ustawiania ostrości

Podwójne pokrętła ostrości w połączeniu ze wzmocnionym zespołem obiektywu umożliwiają równomierne ustawianie ostrości i minimalizują drgania obrazu.

4. Wytrzymała, stabilna metalowa rama i podstawa

Gruby zintegrowany metalowy korpus i wspornik sceniczny z niskim środkiem ciężkości zapewniają stabilną pracę długi czas trwania obserwacja laboratoryjna.

5. Profesjonalny wygląd na poziomie badawczym

Minimalistyczna, całkowicie biała, sztywna metalowa konstrukcja z modułowym układem optycznym, doskonale dostosowana do laboratoriów i badań instytuty.

6. Szeroki zakres zastosowań badawczych i przemysłowych

Idealny do kontroli płytek, analizy metalograficznej, charakteryzowania mikrostruktury materiałów, badań akademickich i prace związane z precyzją i oceną jakości.

7. Cyfrowe oglądanie i nagrywanie w jednym

Przechwytywanie zdjęć i wideo w rozdzielczości 1080P, wbudowany pomiar na monitorze, pamięć U-disk. Obrazy cyfrowe ułatwiają archiwizację plików, porównanie i analiza poeksperymentalna.

Dowody i niezawodność na miejscu (testy z pierwszej ręki)

Mechanika:Całkowicie metalowa konstrukcja zapewniająca wysoką sztywność i odporność na wibracje. Precyzja zgrubne i dokładne ogniskowanie bez luzu. Bardzo precyzyjny ręczny stolik mechaniczny XY o niskim zużyciu i minimalnym prześwit. Trójokularowa ścieżka optyczna utrzymuje współosiowość optyczną podczas przełączania powiększenia.

Optyka:Planachromatyczne obiektywy metalurgiczne z korekcją do nieskończoności, z twardą powłoką przeciwmgielną. Oświetlenie halogenowe o mocy 12 V–100 W, transmitowane-odbite.

Obrazowanie i pomiary:Przemysłowa kamera HDMI 1080P z doskonałą odpornością na zakłócenia wydajność, odpowiednia do pracy w środowisku przemysłowym. Pomiary przeprowadzane są poprzez oprogramowanie sprzętowe na wyświetlaczu.

Środowisko operacyjne:Temperatura pracy 10-35℃, wilgotność względna 30-75%RH. Stabilna wydajność w zwykłym fabrycznym środowisku elektromagnetycznym. Unikaj silnych wibracji, żrącego gazu i ciężkiego pyłu.

Jakość i konserwacja:Inspekcja fabryczna całego elementu. Nie demontuj modułów optycznych. Regularne czyszczenie pyłoszczelne wydłuży żywotność.

Odpowiednie zadania kontrolne dla powiększenia 190–1900×

Półprzewodniki i mikroelektronika (aplikacja Core DIC):
Płytki krzemowe, plastry litograficzne, chipy IC, PCB, obwody elastyczne FPC, złącza lutowane, elementy opakowań.
Cele kontroli: topografia powierzchni chipa, wzory wytrawiania płytek, nanorysy, złącza lutowane na zimno, utlenianie i deformacja szpilek. Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC) podkreśla subtelne różnice w wysokości powierzchni do obserwacji metodą mikroukładową w zakresie powiększeń 190-1900×.

Metalograficzne próbki metali:
Profile metalograficzne ze stopu, stal, precyzyjnie tłoczony osprzęt metalowy.
Cele kontroli: struktura ziaren metalu, analiza obróbki cieplnej, mikropęknięcia powierzchniowe, odpryski krawędzi, drobne zadziory, ślady zużycia i wewnętrzne zanieczyszczenia materiału. Dostępne tryby jasnego/ciemnego pola/światła spolaryzowanego dla metalu obserwacja struktury kryształu.

Próbki laboratoryjne: kryształ, proszek, włókno i cienka folia:
Kryształy chemiczne, proszek metalowy, włókno węglowe, włókno tekstylne, powłoki optyczne.
Obserwuj morfologię kryształów, zarysy cząstek, rozwarstwienie folii i teksturę mikropowłoki; światło spolaryzowane identyfikuje charakterystykę polaryzacji kryształów.

Optoelektroniczne elementy precyzyjne z tworzyw sztucznych:
Chipy LED, soczewki optyczne, podłoża szklane, klej do opakowań półprzewodników.
Wykryj mikropory, nanorysy, rozwarstwienia kleju, bąbelki i subtelne nierówności powierzchni.

Precyzyjne miniaturowe komponenty:
Złącza, zaciski, mikrosprężyny, drobne wytłoczone elementy.
Dokładny pomiar na poziomie pikseli przerw, średnic otworów, różnic w podziałce i wysokości powierzchni; DIC wizualizuje subtelne odkształcenie karbowane.

Laboratoria uniwersyteckie i kontrola jakości wysokiej klasy półprzewodników:
Eksperymenty w zakresie badań materiałowych, kontrola przyjęć płytek, obserwacja próbek metalograficznych; foto-wideo archiwizacja.

Jak wybrać ten model

Wybierz rozdzielczość w oparciu o wymagania dotyczące przejrzystości

Wyposażony w natywną rozdzielczość obrazu HD 1920*1080. Nadaje się do obserwacji metalograficznych i podstawowych kontroli półprzewodników i generowanie prostych raportów laboratoryjnych; wyraźnie pokazuje ziarna metalu i drobne defekty obwodów.

Wybierz tryb ustawiania ostrości zgodnie z częstotliwością pracy

Konstrukcja z ręcznym ustawianiem ostrości, odpowiednia do próbek laboratoryjnych statycznych i wymiany detali o niskiej częstotliwości. Stabilne ustawianie ostrości struktura z precyzyjnym dostrojeniem dla szczegółowej obserwacji próbki statycznej.

Wybierz platformę i ścieżkę optyczną na podstawie próbek testowych

Standardowy ręczny stolik ruchomy i pionowa trójokularowa metalurgiczna ścieżka optyczna do próbek metali, plasterków wiórów i średniej wielkości płytki PCB, skutecznie tłumiące odblaski podczas podstawowej kontroli metalograficznej.

Wybierz powiększenie w zależności od wielkości próbki

Zakres podwójnego powiększenia: powiększenie optyczne 50-500X, powiększenie cyfrowe 190-1900X. Obejmuje zarówno pełny okaz przegląd i kontrola mikroziaren/mikrodefektów.

Wybierz funkcje pomiaru, fotografowania i przechowywania w oparciu o wymagania pracy

Wbudowana funkcja pomiaru na urządzeniu, wyjście HDMI w czasie rzeczywistym, dysk U do zapisywania zdjęć z inspekcji i pomiarów danych, w celach podstawowej archiwizacji laboratoryjnej.

Opcje dostosowywania

Na życzenie dostępna jest wysyłka w neutralnym opakowaniu.

Przegląd jednostki produktu

Przedmiot Opis
Produkt Mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek GP-L600-300C
Kategoria Laboratoryjny trójokularowy mikroskop metalurgiczny klasy badawczej, obsługujący zakłócenia różnicowe DIC, obserwacja w jasnym/ciemnym polu/w świetle spolaryzowanym
Podstawowe technologie Trójokularowy, synchroniczny układ optyczny, zintegrowane oświetlenie wielomodowe (jasne pole, ciemne pole, polaryzator, kontrast różnicowo-interferencyjny DIC), profesjonalna wysoka precyzja metalurgiczny zestaw obiektyw-obiektyw, przetwornik obrazu HD CMOS, wbudowany moduł cyfrowego pomiaru precyzyjnego, HDMI wyjście wideo w czasie rzeczywistym, technologia lokalnego przechowywania obrazu U-disk
Kluczowe dane techniczne Powiększenie wizualne: 50/100/200/500×; Powiększenie elektroniczne: 190/380/760/1900×; Interfejs wyjściowy: HDMI tylko; Rozdzielczość przechwytywania: 1920*1080; Tylko ręczne ustawianie ostrości; Wbudowana funkcja precyzyjnego pomiaru; Dysk U przechowywanie; Terminal-monitor obsługuje podgląd obrazu HD, robienie zdjęć i nagrywanie wideo; Obserwacja tryby obejmują zakłócenia różnicowe, pole jasne, pole ciemne, światło spolaryzowane.
Typowe zastosowania Analiza uszkodzeń płytek półprzewodnikowych, badania metalograficzne materiałów metalowych, powlekanie cienkowarstwowe- obserwacja mikrostruktury, precyzyjna kontrola pakietu półprzewodników, badania-laboratorium-nowego materiału, obserwacja biomateriałów medycznych, wykrywanie mikrodefektów komponentów elektronicznych
Producent Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd.
Lokalizacja producenta Kunshan, Jiangsu, Chiny (w sąsiedztwie Szanghaju)

Dane techniczne

Model GP-L600-300C
Rezolucja 1920×1080
Prawdziwe efektywne piksele 2 megapiksele
Metoda skupiania Tylko ręczne ustawianie ostrości
Format optyczny 1/2"
Rozmiar piksela 3,75 µm × 3,75 µm
Metoda wyjściowa HDMI
Szczegółowe wprowadzenie do interfejsów wyjściowych ① HDMI umożliwia podłączenie wyświetlaczy zgodnych z 4K. Wbudowane profesjonalne oprogramowanie sprzętowe do przetwarzania obrazu rejestrowanie zdjęć, nagrywanie wideo, pomiary wymiarowe, odtwarzanie i porównywanie obrazów, obsługiwane myszką w czasie rzeczywistym.
Liczba klatek na sekundę HDMI: 60 kl./s przy 1920*1080
Synteza głębi ostrości /
Zszywanie obrazu /
Metoda pomiaru Wbudowany system pomiarowy na monitorze
Dokładność pomiaru 0,001 mm
Jednostki miary mm / μm / mil / cal (4 przełączane jednostki)
Narzędzia pomiarowe Długość, kąt, radian, okrąg, wielokąt, polilinia, odległość od środka do środka, prostokąt, adnotacja dodawanie, automatyczne wykrywanie krawędzi, pasek skali i inne
Metoda przechowywania Pamięć U-dyskowa
Język wyświetlacza Uproszczony chiński / angielski (przełączany)
Edytor Dwurdzeniowy ARM Cortex-A7 @ maks. 1,3 GHz
System operacyjny Niezależnie opracowane oprogramowanie pomiarowe oparte na jądrze Linux 3.1
Nazewnictwo obrazu Dostępne automatyczne lub ręczne nadawanie nazw
Głowa przeglądająca Zawiasowa głowica trójokularowa nachylona pod kątem 30°; zakres regulacji międzyźrenicowej: 54-76 mm; dwa rozszczepienia wiązki proporcje: 100:0, 0:100
Tryby obserwacji ★ Jasne pole / Ciemne pole / Światło spolaryzowane / DIC (sprzęt DIC jest opcjonalny)
System oświetlenia System oświetlenia padającego przechodzącego i odbitego, wejście szerokonapięciowe 100-240 V, regulowane włókno centralna, płynna regulacja natężenia światła.
Podstawka ① Dwufunkcyjny stojak transmitowany i odbijany; Współosiowy, grubo-precyzyjny mechanizm ustawiania ostrości umieszczony nisko. Skok regulacji zgrubnej: 33 mm; dokładność precyzyjnej regulacji: 0,001 mm. Wyposażony w blokadę i ogranicznik urządzenia
② Odbłyśnik jasnego i ciemnego pola ze zmiennym przysłoną, ogranicznikiem pola i regulowany zespół środkowy.
③ Filtr zakłóceń i płytka wyważająca kolory (światło białe). ścieżka optyczna światła odbitego.
④ Urządzenie przełączające pole jasne-ciemne; gniazda na filtry barwne i akcesoria polaryzacyjne.
Etap mechaniczny 4-calowy ręczny stopień mechaniczny. Wymiary sceny: 230 mm × 215 mm; Skok X-Y: 105 mm × 105 mm. Szkło Płytka nośna na próbki do obserwacji zarówno w świetle transmitowanym, jak i odbitym.
Źródło światła Lampa halogenowa 12V 100W (światło odbite); Lampa halogenowa 12V 100W (światło przechodzące).
Funkcja polaryzacji Gniazdo polaryzatora 30 stopni (światło odbite); Obrotowe gniazdo analizatora o 360° do światła spolaryzowanego obserwacja.
Okulary Dwa szerokokątne okulary plan-field PL10X/22 mm z regulacją dioptrii (jeden okular z siatką skala).
Nosek ★ Obiektyw z pięcioma otworami w jasnym i ciemnym polu
Funkcja DIC Funkcja różnicowo-zakłóceniowo-kontrastowa; Akcesoria do płytek DIC są opcjonalne i nie wchodzą w skład zestawu w konfiguracja standardowa.
Interfejs elektroniczny Interfejs kamery z mocowaniem C 0,5X, regulowana ostrość; CTV 1X jest opcjonalny i zapewnia kompensację różnicy cen.
Cele metalurgiczne ★ Cele metalurgiczne półniszczące w jasnym i ciemnym polu
① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, Działa Odległość: 9,00 mm × 1 szt
② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, odległość robocza: 9,00 mm × 1 szt.
③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, odległość robocza: 3,40 mm × 1 szt
④ OLIPBD50NC 50X/0,55, odległość robocza: 7,50 mm × 1 szt.
⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, odległość robocza: 2,10 mm (opcjonalnie, nie wchodzi w skład standardowego pakietu)
Powiększenie optyczne 50X, 100X, 200X, 500X (przełączanie czteropoziomowe)
Powiększenie elektroniczne Około. 190X, 380X, 760X, 1900X (przełączanie czteropoziomowe); opcjonalny zakres powiększeń: 380-3800X.

Autorytatywni partnerzy i klienci

Authoritative Partners & Clients

Zastrzeżenie:Pojawiające się logo i nazwy przedsiębiorstw, uczelni i instytucji badawczych tylko ta strona internetowa wskazują, że takie podmioty zakupiły lub wykorzystywały mikroskopy marki GAOPIN. Ich wygląd nie będzie interpretowane jako zakup tego dokładnego modelu produktu i nie będzie oznaczać żadnego komercyjnego poparcia, co-brandingu, przynależności ani partnerstwo w ramach wspólnego projektu z tymi organizacjami zewnętrznymi.

Mikroskopy GAOPIN są używane przez wiodące przedsiębiorstwa, instytuty badawcze i uniwersytety. Nasza współpraca relacje obejmują:

AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Precyzyjna kontrola złączy i komponentów

NIO Shanghai – Precyzyjna kontrola części samochodowych i wiązek elektrycznych zasilanych energią elektryczną

Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanaliza ceramiki nieorganicznej i materiałów nowej energii

ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – weryfikacja wyglądu i mikrojakości dla części standardowe przemysłowe

Pekiński Instytut Technologii - analiza naukowo-badawcza dotycząca materiałów wojskowych i urządzeń optoelektronicznych

GREE Electric Appliances (Hefei) – Precyzyjny pomiar wymiarów i kontrola usterek części sprzętu AGD

O GAOPIN

Firma Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. została oficjalnie założona w 2011 roku. Nasz założyciel rozpoczął badania i produkcję sprzętu do kontroli optycznej już w 2005 roku i zgromadził bogate doświadczenie branżowe. My dostarczyć usługi w pełnym cyklu obejmujące projektowanie produktu, badania techniczne i rozwój, sprzedaż globalną i kompleksowa obsługa posprzedażna. Nasz wewnętrzny zespół inżynierów ma ponad dziesięcioletnie doświadczenie w rozwoju systemów optycznych, aby zapewnić ich stabilność wydajność techniczna i niezawodna jakość produktu.

GAOPIN oferuje ponad sto kategorii przyrządów do kontroli optycznej służących do zastosowań przemysłowych i laboratoryjnych klientów na całym świecie. Zapewniamy elastyczne, ekonomiczne, dostosowane do indywidualnych potrzeb rozwiązania mikroskopowe dla różnorodnych zastosowań przemysłowych projekty kontroli jakości i analizy laboratoryjnej.

Kupującym z zagranicy zapewniamy terminowe globalne wsparcie techniczne, w tym konsultacje wideo online, wideo-operacyjne- tutoriale i zdalne szkolenia umiejętności. Nasz zakład produkcyjny znajduje się w Kunshan w prowincji Jiangsu (w pobliżu Szanghaj). Mile widziane są wizyty w fabryce na miejscu i wirtualne wycieczki online. Aby uzyskać autentyczność, skontaktuj się z naszym zespołem sprzedaży obrazy-testowania próbek zarejestrowane przez ten mikroskop metalurgiczny do kontroli płytek w celu oceny wydajność obrazowania rzeczywistego.

Często zadawane pytania

P1: Jakie interfejsy wyjściowe obsługuje urządzenie? Czy da się go podłączyć do komputera?

A1: Wyposażony jest tylko w wyjście HDMI o wysokiej rozdzielczości. Nie ma portu USB, WIFI ani LAN. Połączenie z komputerem nie obsługiwane; działa niezależnie z monitorem, co zapewnia prostą obsługę.

P2: Jak rozwiązać problemy z czarnym ekranem lub brakiem obrazu w przypadku połączenia HDMI?

A2: Sprawdź zasilacz i pasujący adapter; mocno przymocuj kabel HDMI; przełącz monitor na prawidłowe źródło sygnału HDMI; uruchom ponownie urządzenie, aby rozwiązać problemy związane z czarnym ekranem i brakiem obrazu.

P3: Jak naprawić rozmazane i nieostre obrazy obserwacyjne?

A3: Jest to model z ręcznym ustawianiem ostrości. Powoli reguluj ostrość pokrętłem, aby uzyskać ostry obraz. Zablokuj mocno obiektyw, połóż próbkę na płasko i regularnie czyść kurz i plamy z obiektywu, aby zapewnić dobrą widoczność.

P4: Dlaczego dysk U nie jest rozpoznawany i nie można zapisać plików?

A4: Obsługiwane są tylko dyski U sformatowane w systemie FAT32 o pojemności ≤32 GB. Formaty NTFS i exFAT są niekompatybilne. Włóż ponownie, sformatuj ponownie lub wymień na zgodny dysk U w celu normalnego zapisywania zdjęć i filmów.

Wyślij zapytanie
Informacje kontaktowe
Wyślij swoje zapotrzebowanie na bezpośrednią wycenę fabryczną. OEM lub niestandardowe systemy mikroskopowe, zamówienia masowe, wysyłka eksportowa – GAOPIN odpowiada, składając ofertę dostosowaną do potrzeb.
X
Używamy plików cookie, aby zapewnić lepszą jakość przeglądania, analizować ruch w witrynie i personalizować zawartość. Korzystając z tej witryny, wyrażasz zgodę na używanie przez nas plików cookie. Polityka prywatności
OdrzucićPrzyjąć