Gaopin GP-810T Współosiowy mikroskop świetlny o wysokiej rozdzielczości. To oświetlenie wysokiej rozdzielczości + współosiowe jest wyposażone z współosiowy obiektyw z ciągłym zoomem i kamera z wyjściem HDMI o wysokiej rozdzielczości do transmisji obrazu w czasie rzeczywistym. Obsługuje mikroskop cyfrowy z oświetleniem koncentrycznym zdjęcie przechwytywanie i nagrywanie wideo w celu zapisania przykładowych obrazów. Oświetlenie koncentryczne jest idealne do obserwacji o dużym stopniu odbicia mieszkanie detale. Ciężka podstawa z mechanizmem regulacji podnoszenia umożliwia płynne i stabilne ustawianie ostrości. Solidna jednostka to szeroko służy do wizualnej kontroli precyzyjnych wad powierzchniowych.
| Model | GP-810T |
| Rezolucja | 1920 × 1080 |
| Rozmiar piksela | 2,75 µm × 2,75 µm |
| Rozmiar czujnika | 1/2,8 cala |
| Typ migawki | Skanowanie progresywne |
| Kolor wyjściowy | Kolor |
| System operacyjny | / |
| Funkcje pomiarowe | / |
| Składowanie | Zewnętrzny dysk flash USB (można zapisywać zdjęcia i filmy) |
| Interfejs wyjściowy | HDMI Dwa porty USB (do podłączenia myszy i dysku flash USB) |
| Zasilanie | Napięcie stałe 12 V |
| Wymiary | 46 mm × 46 mm × 40 mm |
| Przedmiot | Opis |
| Model produktu | GP-810T Wysoka rozdzielczość + oświetlenie koncentryczne |
| Kategoria produktu | Przemysłowy cyfrowy mikroskop inspekcyjny |
| Technologia rdzenia | Obrazowanie metodą progresywną; Przechwytywanie obrazu kolorowego; Wyjście HDMI HD; Transmisja danych USB i przechowywanie. |
| Kluczowe dane techniczne | Rozdzielczość 1920×1080; Rozmiar piksela 2,75×2,75 µm; Rozmiar czujnika 1/2,8"; Ekspozycja: skanowanie progresywne; Wyjście kolor: kolor; Interfejs: ① Wyjście HDMI HD; ② Port USB 2.0 (do podłączenia myszy i napędu USB); Przechowywanie: Dysk USB (zdjęcia, wideo, pamięć masowa); Wymiary: 46×46×40 mm. |
| Typowe zastosowania | Kontrola defektów PCB, precyzyjny wymiar sprzętowy QC; Kontrola wyglądu podzespołów elektronicznych, kontrola wyglądu pleśni; Obserwacja mikrourządzeń półprzewodnikowych; Powierzchnia z przezroczystego materiału kontrola zarysowania. |
| Producent | Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd. |
| Adres | Kunshan, prowincja Jiangsu, Chiny (obok Szanghaju) |
Przemysłowy test próbki: rozdzielczość 1920 × 1080, koncentryczna ścieżka optyczna wyraźnie rejestruje zadrapania i drobne odpryski odblaskowe przedmioty ze stabilnym, długotrwałym oglądaniem.
Rolowana migawka tłumi migotanie i paski odblaskowe, zapewnia czysty obraz polerowanego metalu i wiórów.
Zapisywanie zdjęć/wideo jednym kliknięciem na dysku USB, oryginalne pliki kontroli w celu archiwizacji i przeglądu jakości.
Wyświetlacz HDMI w czasie rzeczywistym o niskim opóźnieniu, bezpośrednie połączenie z monitorem w celu intuicyjnej kontroli na miejscu.
Podwójne porty USB dla myszy i dysku U, stabilna funkcja plug-and-play i responsywna obsługa menu.
Metalowy wspornik do podnoszenia i gruba podstawa są odporne na drobne wibracje warsztatowe i zapobiegają rozmyciu ostrości przy dużym powiększeniu.
Różnica w stosunku do standardowych mikroskopów:Zwykłe mikroskopy stereoskopowe wykorzystują oświetlenie boczne, które powoduje odblaski na odblaskowych próbkach, takich jak metal i szkło, sprawiając, że drobne defekty powierzchni są trudne do zauważenia. Ten wysokiej rozdzielczości + Oświetlenie koncentryczne wykorzystuje pionową koncentryczną ścieżkę optyczną. Światło pada prostopadle na próbki, zapewniając przejrzystość obrazy materiałów odblaskowych. Łączy się bezpośrednio z monitorami poprzez HDMI, bez konieczności używania okularu. Wiele osób można oglądać w tym samym czasie. Obrazy i filmy można zapisywać do celów kontroli jakości.
Zakres zastosowania:Nadaje się do wykrywania zadrapań, odprysków i plam na odblaskowych przedmiotach takie jak żetony, płytki, szklane osłony, polerowany sprzęt i złote palce PCB. Służy do wizualnej kontroli jakości elementy półprzewodnikowe, formy precyzyjne i części do telefonów komórkowych, wspierające kontrolę pobierania próbek na linii produkcyjnej oraz obserwacja próbki laboratoryjnej.
1. Kontrola wad powierzchni odblaskowych części metalowych:Pionowe oświetlenie koncentryczne eliminuje blask. Sprawdź zadrapania, wgłębienia, wgłębienia i zanieczyszczenia na polerowanym sprzęcie i metalowych stykach.
2. Kontrola jakości opakowań na chipsy i wafle:Wykrywanie układów scalonych i pakietów półprzewodników dziury na powierzchni, odpryski, plamy utleniania i zadrapania na silnie odblaskowych powierzchniach opakowań.
3. Kontrola złotych palców PCB i obwodów pozłacanych:Sprawdź zadrapania, brak powłoki, ekspozycja podłoża i utlenianie na złotych palcach PCB. Światło koncentryczne wyraźnie ujawnia mikrodefekty na odblaskowym złocie poszycie.
4. Kontrola wad przezroczystych i półprzezroczystych części z tworzyw sztucznych:Precyzyjnie formowane wtryskowo i optycznych części z tworzyw sztucznych, identyfikuje zadrapania, pęcherzyki, ślady zapadnięcia się i ślady uwolnienia z pleśni bez powodowania martwych punktów przy oświetleniu bocznym.
5. Pomiar wyglądu i wymiarów części mikroprecyzyjnych:Mikrozaciski, sprężyny i elementy toczone. Obserwuj defekty formy i mierz szerokość linii, szczeliny i wymiary płaskie oprogramowanie.
6. Obserwacja powierzchni elementów optycznych:Sprawdź szklane soczewki i powlekane elementy optyczne zadrapania powłoki, drobinki kurzu i dziurki w celu uzyskania lustrzanie gładkich próbek.
Odporna na wibracje sztywna konstrukcja z płynną precyzyjną regulacją wysokości, zapewniająca stabilny obraz przez długi czas ciągła kontrola.
· Pielęgnacja soczewek optycznych i koncentrycznych okien:Używaj wyłącznie profesjonalnej chusteczki do soczewek optycznych lub bezpyłową ściereczką z mikrofibry do czyszczenia obiektywu i okienka optycznego światła współosiowego. Nigdy nie używaj ręczników papierowych ani szorstkiej szmatki aby uniknąć zarysowania powłoki optycznej. W przypadku odcisków palców i plam olejowych nałóż na powierzchnię niewielką ilość środka do czyszczenia optyki tkanina. Nie kapać płynu bezpośrednio na elementy optyczne. Unikaj dotykania powierzchni optycznych gołymi rękami.
· Konserwacja aparatu, tubusu obiektywu i stojaka:Wyczyść kamerę HD, korpus monokularu i metal kolumnę suchą, pozbawioną kurzu, miękką ściereczką. Nie narażaj urządzenia na działanie wody. Utrzymuj mocny alkohol, aceton i inne środki żrących rozpuszczalników, aby chronić farbę i nadruki. Utrzymuj złącza HDMI i zasilania w suchości, aby zapobiec metalom utlenianie i słaby kontakt. Nie ciągnij na siłę przewodów sygnałowych.
· Mechanizm sceniczny i fokusowy:Usuń kurz z czarnego stolika za pomocą suchej, miękkiej szmatki. Wyczyść kurz regularnie używaj pokręteł ostrości i prowadnic kolumn. Można nałożyć niewielką ilość suchego smaru. Płynne smary są zabronione, aby zapobiec kapaniu oleju i zanieczyszczeniu współosiowego modułu świetlnego i soczewki. Ostrożnie poruszaj pokrętłem ostrości, nie obracaj go na siłę, aby uniknąć uszkodzenia przekładni.
· Zasilanie i środowisko operacyjne:Użyj oryginalnego zasilacza. Umieść sprzęt w suchym, środowisku o niskim zapyleniu, z dala od wysokiej temperatury, wilgotności i silnych wibracji. Wyłącz i odłącz zasilanie oraz HDMI kable, jeśli nie są używane przez dłuższy czas.
Światło pionowe oświetla próbki w pionie, idealne do powierzchni lustrzanych, metali, wiórów i płytek. Wyraźnie chwyta rysy, odpryski i mikropęknięcia na odblaskowych przedmiotach.
Wysoka wierność reprodukcji obrazu. Przechwytuj i zapisuj nagrania z inspekcji w celu rejestrowania jakości, przeglądu i identyfikowalności.
Bezpośrednie połączenie z monitorem w celu podglądu na żywo z niskim opóźnieniem, wspierające wizualną kontrolę produkcji w czasie rzeczywistym linie bez podglądu na komputerze.
Duża głębia ostrości i płynna regulacja powiększenia. Utrzymuje ostre obrazowanie próbek o nierównej wysokości do precyzyjnej kontroli komponentów.
1. Przedmioty lustrzane i odblaskowe:Polerowane części metalowe, wióry, wafle, szkło i inne wysoko próbki odblaskowe. Światło współosiowe eliminuje odbicia, umożliwiając wyraźną obserwację drobnych defektów powierzchni.
2. Przedmioty do kontroli płaskich mikrodefektów:Precyzyjne przedmioty wymagające wykrywania zadrapania, odpryski, dziury, plamy utleniania i inne subtelne wady płaskiej powierzchni.
3. Wymagane nagrywanie i archiwizacja obrazu:Produkty wymagające przechwytywania zdjęć i filmów w celu usunięcia wady przechowywanie obrazów, raporty jakości, identyfikowalność procesów i dowody reklamacji klientów.
4. Precyzyjne komponenty elektroniczne:Piny chipowe, BGA, złącza, obwody PCB i inne półprzewodniki i precyzyjne części elektroniczne.
5. Zapotrzebowanie na obserwację HD w czasie rzeczywistym:Produkty wymagające szybkiej kontroli warsztatowej na miejscu za pomocą złącza HDMI bezpośrednie wyjście umożliwiające podgląd w wysokiej rozdzielczości w czasie rzeczywistym.
6. Personalizacja:Obsługuje wysyłkę neutralną
Mikroskopy GAOPIN są używane przez wiodące przedsiębiorstwa, instytuty badawcze i uniwersytety. Nasza współpraca relacje obejmują:
AVIC Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Kontrola mikrostruktury i analiza uszkodzeń złączy
Uniwersytet Xi'an Jiaotong - naukowa analiza mikromorfologii materiałów
GREE Electric (Hefei) – Kontrola mikrodefektów i weryfikacja jakości komponentów
CATL – kontrola mikrodefektów elektrod i ogniw baterii litowych
A1: Światło współosiowe oświetla próbki pionowo wzdłuż osi soczewki. Jest przeznaczony do wysoce odblaskowych obrabianych przedmiotów, takich jak polerowany metal, płytki i osłony szklane. Może tłumić odblaski lustrzane i uchwycić małe mieszkanie wady typu rysy i wgłębienia.
A2: Jest wyposażony w wyjście HDMI o wysokiej rozdzielczości, które można podłączyć bezpośrednio do monitora w celu obrazowania w czasie rzeczywistym. System natywnie obsługuje przechwytywanie zdjęć i nagrywanie wideo w celu szybkiej archiwizacji obrazów na miejscu.
A3: Ciężka, zintegrowana metalowa podstawa i pionowy stojak do podnoszenia zapewniają dużą stabilność i wytrzymują drobne warsztaty wibracje. Pokrętło ostrości ma miękkie tłumienie, co zapewnia delikatny ruch obiektywu, odpowiednie do wielogodzinnej ciągłej kontroli.
O4: Jednostka bazowa obsługuje przechwytywanie zdjęć i wideo. Pomiar wymiarów można zrealizować z opcjonalnym dopasowaniem oprogramowanie do obliczania rozmiarów geometrycznych i spełniania wymagań ilościowej kontroli jakości.
A5: Światło pierścieniowe oświetla próbki z boku i powoduje silne odblaski na powierzchniach odblaskowych. Świeci światło koncentryczne pionowo, aby zmniejszyć zakłócenia odbicia i jest zoptymalizowany do obserwacji defektów na płaskich płaszczyznach odblaskowych, z którymi borykają się lampy pierścieniowe.
Firma Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., założona w 2011 roku, której założyciel zgromadził wiedzę branżową od 2005 roku jest przedsiębiorstwem skoncentrowanym na technologii, specjalizującym się w projektowaniu, badaniach i rozwoju, sprzedaży i obsłudze posprzedażnej mikroskopy przemysłowe. Dzięki głównemu zespołowi inżynierów z ponad dziesięcioletnim profesjonalnym know-how firma the firma gwarantuje sprawdzone technologie i stałą niezawodność produktów. GAOPIN oferuje ponad sto modele produktów optycznych i obsługuje klientów na całym świecie, poświęcając się dostarczaniu dostosowanych do indywidualnych potrzeb, ekonomiczne rozwiązania mikroskopowe. Oferujemy szybką pomoc techniczną na całym świecie obejmującą konferencje online, wskazówki dotyczące obsługi wspomagane wideo i zdalne sesje szkoleniowe. Nasza baza produkcyjna znajduje się w Kunshan, Prowincja Jiangsu, niedaleko Szanghaju. Dotyczy to zarówno inspekcji fabryk na miejscu, jak i wirtualnych wycieczek po zakładach dostępne dla klientów. Skontaktuj się z nami, aby uzyskać próbki zdjęć testowych wykonanych za pomocą tego urządzenia High-Definition+ Oświetlenie koncentryczne, dzięki czemu można bezpośrednio ocenić jego wydajność obrazowania.
Adres
Budynek 2, Międzynarodowe Centrum Biznesowe Shuanglian, miasto Huaqiao, miasto Kunshan, Chiny
Tel
